高加速應(yīng)力試驗箱-濕熱加速箱 HAST 試驗?zāi)軌蛟诙虝r間內(nèi)模擬產(chǎn)品長時間使用后的狀態(tài)，快速地使產(chǎn)品老化，加速激發(fā)產(chǎn)品潛在的缺陷和故障，從而有效篩選出早期失效的產(chǎn)品，讓制造商能在產(chǎn)品研發(fā)和生產(chǎn)階段盡早發(fā)現(xiàn)問題，如電子元器件的封裝缺陷、材料的不耐濕熱特性等，以便提前采取措施加以改進(jìn)，提高產(chǎn)品的可靠性

HAST加速老化試驗箱 電子元器件：如集成電路、半導(dǎo)體元件、電容器、電阻器等，通過 HAST 試驗可以評估其在高溫高濕及壓力條件下的密封性能、防潮性能以及老化性能，快速暴露潛在的可靠性問題，如封裝不良、材料老化等，確保其在實際使用中的穩(wěn)定性和可靠性

非飽和型高壓加速壽命試驗箱 綜合失效分析 非飽和型高壓加速壽命試驗箱（HAST）是一種通過模擬高溫、高壓、高濕的非飽和蒸汽環(huán)境，加速產(chǎn)品老化并暴露潛在缺陷的可靠性測試設(shè)備。其核心價值在于通過綜合失效分析，快速識別產(chǎn)品在材料、工藝、設(shè)計等環(huán)節(jié)的薄弱點，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、汽車電子、新能源等行業(yè)的研發(fā)與質(zhì)量控制環(huán)節(jié)。

高壓加速壽命測試機 hast加速老化試驗箱 基于高溫、高濕、高壓的嚴(yán)苛環(huán)境模擬技術(shù)，能夠以遠(yuǎn)超自然老化的速度，加速測試各類材料、電子元器件、半導(dǎo)體封裝、印刷電路板等產(chǎn)品的老化過程。通過模擬嚴(yán)苛條件下的老化場景，可在短時間內(nèi)獲取產(chǎn)品在長期使用過程中的性能變化數(shù)據(jù)，幫助企業(yè)提前發(fā)現(xiàn)潛在質(zhì)量隱患，大幅縮短產(chǎn)品研發(fā)和質(zhì)量驗證周期。

芯片高加速應(yīng)力試驗箱（HAST） HAST非飽和高壓加速老化試驗箱是使用在加壓和溫度受控的環(huán)境中施加過熱蒸汽的非冷凝(不飽和方法)，將外部保護(hù)材料、密封劑或外部材料和導(dǎo)體之間通過加速水分滲透的作用進(jìn)行試驗;一般是在設(shè)定的溫度和濕度條件下連續(xù)施加壓力來完成的。